帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES / 文章 /
安立知LTE-Advanced RF一致性測試系統通過GCF認證
 

【作者: 編輯部】   2016年05月13日 星期五

瀏覽人次:【6954】

安立知(Anritsu)宣佈LTE-Advanced射頻(RF)一致性測試系統ME7873LA通過GCF官方測試案例認證,支援超過80%的3路下行鏈路載波聚合(3DL CA)RF一致性測試案例。


圖一 : ME7873LA取得的這些GCF認證範圍涵蓋日本、北美和歐洲所使用的3DL CA頻率。
圖一 : ME7873LA取得的這些GCF認證範圍涵蓋日本、北美和歐洲所使用的3DL CA頻率。

ME7873LA取得的這些GCF認證範圍涵蓋日本、北美和歐洲所使用的3DL CA頻率。取得這些認證後,ME7873LA目前累積經認證的RF與RRM測試案例數量已位居領先地位,特別是安立知的 3DL CA RRM測試系統擁有超過80%測試案例的記錄。


載波聚合技術透過聚合多種頻段以提高傳輸速度,並經由3GPP Release 10標準加以定義。全球行動營運商目前正聚合2路下行訊號以佈建2DL CA服務,並計劃在2016年中開始在北美、南韓與日本展開3DL CA部署。
...
...

使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10則/每30天 0則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 25則/每30天 付費下載

相關文章
Anritsu建構高速介面測試標準化平台 與AMD展示支援跨品牌VNA
頻譜分析儀邁向150MHz新標準 迎戰無線通訊與國防測試需求
2025年NTN進一步支援物聯網 設備開發將面臨延遲和頻移等挑戰
Anritsu 安立知年度盛會展現 AI 熱潮驅動無線通訊與高速介面技術飛速革新
Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
相關討論
  相關新聞
» VESA更新DisplayPort 2.1標準加速傳輸 開啟次世代視覺體驗
» Anritsu建構高速介面測試標準化平台 與AMD展示支援跨品牌VNA
» 晶創主機Nano 助半導體產業創新與升級 打造南部半導體創新樞紐
» 產學醫界攜手推動全台高教界首創學生免費健檢制度
» 頻譜分析儀邁向150MHz新標準 迎戰無線通訊與國防測試需求


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2026 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HKA4F7DE80ISTACUK6
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw