半导体测试厂商爱德万测试(Advantest)的测试机台—T5851日前于8月9日至11日在美国加州圣克拉拉举行的第11届年度快闪记忆体高峰会(Flash Memory Summit;FMS) ,勇夺快闪记忆体与固态储存产业最高荣誉的「最佳参展项目奖」(Best of Show Award)。
![爱德万测试T5851测试机台获快闪记忆体高峰会颁最佳参展项目奖](/news/2016/09/07/1557091410S.jpg) |
爱德万测试T5851测试机台获快闪记忆体高峰会颁最佳参展项目奖 |
爱德万测试T5851系统在快闪记忆体高峰会「最创新快闪记忆体技术」(Most Innovative Flash Memory Technology)评鉴类别深获肯定,为半导体测试带来革命性的突破,有助业者借由快闪记忆体测试,进一步提升电子产品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。 T5851系统提供单一多协定工具,针对高效能通用快闪储存(UFS)装置与PCIe BGA固态硬碟(Solid-State Drive;SSD)做测试,大幅降低客户的资本投资与部署风险。此外,T5851采用 Tester-per-DUT架构与专利硬体加速器,缩短测试时间,进而减少测试成本。
T5851专为NAND装置的大量测试、可靠性测试与品质测试而设计,且系统具弹性,若搭配自动元件分类机如爱德万测试M6242系统,则最高可平行测试768个装置。
爱德万测试执行董事山田弘益表示:「爱德万测试为非挥发性记忆体市场带来的创新突破,对于低功率的行动应用至为关键,而我们的努力能受到业界肯定肯定,敝公司深感荣幸。T5851系统在设计上瞄准了这类装置在系统级测试上的需求,同时又能兼顾市场对于可靠性、成本控制和大量生产的期待。」
快闪记忆体高峰会大奖计画主席Jay Kramer表示:「新兴消费性电子产品采用快闪储存技术已成趋势,市场快速拓展,而业界能否提供可扩张的快闪记忆体测试平台将成为一大挑战。我们很荣幸地将『最佳参展项目技术创新奖』(Best of Show Technology Innovation Award)颁发给爱德万测试T5851系统,该系统适用于广泛的测试方案环境,无论是生产模型还是工程模型皆可应用;而其多元性也获得肯定,举凡智慧型手机、平板电脑、超轻薄可携式笔电的记忆体IC皆可测试。 」