Anritsu 安立知为其光谱分析仪 MS9740B 推出新的测量功能 (MS9740B-020)，使用脉冲模式评估雷射二极体 (Laser Diode，LD) 晶片。此全新解决方案缩短了高功率 LD 晶片的测试时间，有助於提升其生产效率。

Anritsu 安立知为光谱分析仪 MS9740B 增强高功率雷射二极体测量功能

开发背景

LD 晶片制造商和光学设备供应商必须在制造过程中评估 LD 晶片的光谱特性。

高功率 LD 晶片的市场需求来自於更高的通讯位元速率以及更广的光达 (LiDAR) 侦测范围。此外，因应共同封装光学应用的外部雷射小型可??拔 (ELSFP) 模组等新用例预计也会加速上述需求。高功率 LD 晶片的连续波 (CW) 输出会因晶片温度升高而出现功率漂移和波长偏移的问题，使用脉冲模式驱动晶片可抑制温度升高，并有助於避免这种情况发生。然而，目前在生产过程中进行LD 晶片的脉冲测试需要较长的时间，因为它还需要外部触发讯号才能与 LD 晶片的脉冲频率同步。

产品概要和特点

减少 LD 晶片脉冲测试的生产时间 (Tact Time)：新型MS9740B-020 解决方案无需外部触发讯号，加快了光谱评估的速度。

确保高功率 LD 晶片的测量再现性：该解决方案可确保旁模抑制比 (SMSR) 的测量再现性为 ±1.4dB，较低的 SMSR 变化可提高 LD 晶片的良率，协助提高生产效率。（安装 MS9740B-020 时为 ±1.8dB）