帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
安立知為光譜分析儀MS9740B 增強高功率雷射二極體測量功能
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2023年07月26日 星期三

瀏覽人次:【1558】

Anritsu 安立知為其光譜分析儀 MS9740B 推出新的測量功能 (MS9740B-020),使用脈衝模式評估雷射二極體 (Laser Diode,LD) 晶片。此全新解決方案縮短了高功率 LD 晶片的測試時間,有助於提升其生產效率。

Anritsu 安立知為光譜分析儀 MS9740B 增強高功率雷射二極體測量功能
Anritsu 安立知為光譜分析儀 MS9740B 增強高功率雷射二極體測量功能

開發背景

LD 晶片製造商和光學設備供應商必須在製造過程中評估 LD 晶片的光譜特性。

高功率 LD 晶片的市場需求來自於更高的通訊位元速率以及更廣的光達 (LiDAR) 偵測範圍。此外,因應共同封裝光學應用的外部雷射小型可插拔 (ELSFP) 模組等新用例預計也會加速上述需求。高功率 LD 晶片的連續波 (CW) 輸出會因晶片溫度升高而出現功率漂移和波長偏移的問題,使用脈衝模式驅動晶片可抑制溫度升高,並有助於避免這種情況發生。然而,目前在生產過程中進行LD 晶片的脈衝測試需要較長的時間,因為它還需要外部觸發訊號才能與 LD 晶片的脈衝頻率同步。

產品概要和特點

減少 LD 晶片脈衝測試的生產時間 (Tact Time):新型MS9740B-020 解決方案無需外部觸發訊號,加快了光譜評估的速度。

確保高功率 LD 晶片的測量再現性:該解決方案可確保旁模抑制比 (SMSR) 的測量再現性為 ±1.4dB,較低的 SMSR 變化可提高 LD 晶片的良率,協助提高生產效率。(安裝 MS9740B-020 時為 ±1.8dB)

關鍵字: 光譜分析儀  安立知(Anritsu安立知(Anritsu
相關新聞
安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
安立知升級WLAN測試儀 支援Wi-Fi 7 2x2 MIMO
MVG整合安立知無線通訊綜合測試儀至ComoSAR系統 增強5G SAR測量能力
安立知參與OIF在ECOC 2024的OpenROADM互通性展示
安立知最新USB4 2.0接收器測試解決方案支援80Gbit/s數據傳輸速度
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» 讓6G主動創造新價值 提供通訊產業應用機會
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.144.6.223
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw