半导体设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)24日发表旗下M4841大量元件分类机在主动式温度控制 (ATC) 的新功能。ATC 2.0就车用半导体测试期间自生热 (self-heating) 效应导致的温度波动提供动态调节，有助确保生产测试更为精准，可满足多达16颗先进系统单晶片 (SoC) 并测需求，同时提升产出率、缩短测试时间。

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举凡电动车 (EV) 或其他成长快速之资料密集型汽车应用，譬如车用资讯娱乐系统和即将面市的Level 4自驾技术等，作为驱动力的关键元件往往需要进行大量资料处理。随着半导体制造日新月异，带动这些先进元件无论在功能还是功率效益上都更进步，但散热设计功率也跟着增加，导致元件在测试期间自生热，增加测试温度控制的难度。於是，追求及时而稳定的元件温度管理分类机需求就此产生。

新发表的整合化ATC分类机取代先前被动式的温控技术，让M4841得以提供持续稳定的测试环境，并具备快速反应和高负载追踪特性，即使在测试期间出现温度波动，也能使元件内部温度维持在固定的测试温度。这种稳定性能帮助使用者建立具有高灵活度的测试程序，连带的也大幅提升整体测试效率。

爱德万测试资深??总 Kazuyuki Yamashita 表示：「我们的ATC技术已在爱德万测试旗下其他分类机上证明卓越成效，鉴於汽车、工业和其他市场对於高资料传输率元件的需求遽增，被动温度调节已不能满足我们现有的M4841模型需求。ATC的动态热感测和冷却技术与M4841分类机的量产测试能力相结合，创造出价值全面提升的分类机解决方案，提供给我们各大市场领域的客户。」

爱德万测试M4841分类机配备ATC 2.0，能做到高达16颗元件并测的高产能测试，从而实现极高元件产量、支援各种复杂IC和封装。这些先进的效能与功能使M4841成为最理想的测试分类机，有助量产可携式数位装置和车用系统等消费性产品中所使用到的元件。

M4841分类机最新ATC选项将於2024年4月推出。