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巨有與致茂合作 突破IC測試技術瓶頸
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 報導】   2011年03月10日 星期四

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巨有科技(PGC)近日宣佈,己與致茂電子(Chroma)展開緊密合作。巨有選購致茂的Chroma 3650平台,以提供其消費型電子產品及其他裝置的工程測試使用。Chroma 3650配備完整的測試模組,如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG記憶體模組、高電壓電流模組和SCAN模組,可大幅降低產品原有的工程開發及量產測試成本。

Chroma 3650測試機台
Chroma 3650測試機台

巨有科技表示,隨著SoC奈米化,除了使IC的設計難度提高以外,IC測試及驗證工作也往往比IC設計開發更花費時間,在IC產品測試部份則相對增加其技術難度及所需的成本。因此,如何有效協助顧客解決及突破IC測試方面的技術瓶頸,成為現今IC設計廠商要面對的重要課題。巨有選購Chroma 3650平台,使其具備高產能及多功能的晶圓片和封裝成品測試能力,以適應目前對價格日益敏感的市場變動及需求。

關鍵字: 巨有  致茂 
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