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NI:3x3是LTE手机最佳天线数
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2013年05月23日 星期四

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无线通信技术在行动市场发光发热,对于RF的测试自然也变得至关重要。对于主导4G市场的LTE技术来说,MIMO当然是其关键。然而对于行动装置来说,究竟在实际的应用上,多少天线数量才能在传输效能与省电功耗间取得平衡?NI无线RF测试产品经理Erik Johnson指出,3x3对手机来说,将是个合理的天线数量。

NI无线RF测试产品经理Erik Johnson认为,3x3将是行动装置最佳的天线数量。
NI无线RF测试产品经理Erik Johnson认为,3x3将是行动装置最佳的天线数量。

Erik说,目前就芯片厂来看,包括Broadcom与Qualcomm Atheros等厂商,都已经发表3x3的MIMO芯片,而4x4芯片则有Quantenna应对数字家庭的无线影像传输用途推出相关产品。事实上,目前许多厂商宣称能达到8x8天线,多半还是属于宣传性质,目前就实际应用层面来看,8x8天线尚无实际商用市场,反倒目前是以2x2为是市场最大主流应用。然而就消费端的角度来看,在新一代4G行动装置问世之后,为了确保数据传输率与耗电量之间,能够取得平衡点,3x3的天线数量将是较为合理的选择。

事实上,对于4G手机来说,耗电量比以往更高,且更容易产生发热的问题。主要的症结点都是来自于PA功率放大器所产生的功耗。因为LTE采用了OFDMA调变技术,峰值平均功率比(PAPR)对其将是个巨大的挑战。峰值功率容易造成功率放大器发热的问题,要解决这样的问题,就必须在测试的时候进行功率电平的测试,来确保PA的操作都在线性的区域内,不会来到非线性范围。另外,追踪讯号封值的追踪也是重要的一环。这两项都是确保功率放大器不会产生巨大功耗,导致产品发出高热的状态。

Erik表示,其实这些问题,NI早就都看到了。目前NI已有针对手机充电功能的评测仪器,可针对整支手机包括通讯、多核处理器进行测试,确保各环节均能在最佳的状态下运作,来减少手机发热的问题。

關鍵字: LabVIEW  NI 
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