因應IC設計在亞洲的蓬勃發展，工研院主辦的第二屆國際超大型積體電路設計、自動化暨測試研討會（2006 VLSI-DAT）在新竹國賓舉行。專題演講與來自全球共72篇突破性技術論文，吸引來自歐美日等17國300餘位專業人才與會，共同切磋分享全球IC設計最新技術與發展。

2006 VLSI-DAT首先登場的是三位國際重量級場大師級的專題演講，分別由加州大學教授Daniel D. Gajski主講系統層次設計的新策略(New Strategies for System Level Design)、日本STARC公司總裁Katsuhiro Shimohigashi主講奈米時代的挑戰與機會(DFM in Perspective - A Challenge and Opportunity in Nanometer Era)，以及BenQ的技術副總Bruno Thuillier主講大型積體電路與行動化(VLSI & Mobility)。積體電路邁入奈米製程的晶片系統時代，設計方法必須跟著進步，系統層次設計策略可以大幅提昇設計生產力與速度；可量產設計(DFM)則可確保晶片良率與品質；而積體電路做為行動應用的關鍵技術則在BenQ的演講中剖析。

在論文發表方面，2006 VLSI-DAT從來自14國191篇論文中精選出72篇，這三天發表的論文在IC設計上有許多突破與特色，將對未來的產品應用上有極大的影響力，內容涵蓋類比技術領域、數位視訊和通訊領域、無線通訊領域、系統層次整合領域、嵌入式系統、設計自動化與積體電路測試。所有論文都將被蒐錄於IEEE Digital Library。

另外，本屆大會在第一天下午開闢一場由國內IC設計廠商發表最新技術研發成果的產業論壇，參與的廠商包括聯發科、凌陽、瑞昱、思源、威盛與矽創，除提供國內外業界相關領域人士交流機會外，也藉此互動在競爭中找到合作的契機。