新思科技於日前發表了DFT Compiler新一代的測試技術， Synopsys 的DFT Compiler所加強的新功能中，將允許設計工程師順利地進行數百萬邏輯閘之系統單晶片測試。這些新的功能所帶來的先進測試模組化(test modeling)技術，大大地提昇了此軟體工具的邏輯閘容量以及執行效能。除此之外，新思科技新版本TetraMAX(R)的ATPG延遲測試(delay test)功能現在也提供全方位功能，以協助設計工程師在進行測試的同時也能夠偵測到與時序相關的錯誤，以滿足公司嚴格的品質要求。

新思表示，由今日先進的特殊應用晶片與系統單晶片的大小以及複雜程度看來，設計工程師能否對這些晶片進行有效的測試，對於生產力而言，是一大關鍵性的挑戰。DFT Compiler的新測試模組化技術(test modeling technology)現在可以支援新思科技的實體合成(Physical Synthesis)環境，以完成先進的階層式DFT流程(Hierarchical DFT Flow)。這項新的模組化技術讓DFT Compiler能處理較以往大三倍容量的電路，並提高了七倍速的軟體執行速度，同時也在沒有影響任何DFT能力的情況下，進行時序與佈局的最佳化。這麼一套在業界所廣為接受的測試軟體工具有如此的容量與執行效能之提昇，將幫助設計工程師跟得上設計的成長潮流與複雜度。

德州儀器全球電子設計自動化數位信號處理系統設計事業群總監Mike Fazeli先生表示，「隨著設計的大小與複雜度之日漸增加，我們需要一套讓設計工程師不僅容易上手而且也淺顯易懂的階層式scan synthesis解決方案 (hierarchical scan synthesis solution)，來幫助我們縮短整體的設計週期時間。DFT Compiler新一代的先進階層式scan synthesis設計流程的功能，能夠滿足我們對設計複雜度的要求，同時，我們也相信，這些在DFT Compiler中的新功能，可以幫助我們達成在各種不同的設計中增加額外生產力的目標。」

摩扥羅拉3G基頻產品的DFT領導者Benoit Bailliet談到，「對於從TetraMAX DelayTest中所得到的初次結果，我們感到很高興。在短短幾個小時內，我們可以用PrimeTime萃取出在模組層級上的重要路徑名單，將這些路徑映製於系統單晶片層級，並且用TetraMAX ATPG產生路徑延遲模組；在同一天，這些模組便可以成功地在矽晶上運作，這對我們在一百萬電晶體設計的路徑延遲測試方法上，真是一大成就。」