罗德史瓦兹（R&S）于日前宣布，针对旗下频谱分析仪产品R&S FSH4与R&S FSH8，发表可分析LTE FDD/ TDD传输信号的新选配件–R&S FSH-K50E与R&S FSH-K51E。在R&S FSH4与R&S FSH8手持式频谱分析仪中，使用一个按键，执行基本LTE测量功能，包括LTE信道功率测量，已定义的LTE相邻信道功率测量，和已定义测量噪声发射中的LTE频谱发射遮蔽。

软件配件R&S FSH-K50和R&S FSH-K51的测量功能，增加了LTE FDD基地台和LTE TDD基地台发射器的测量，包括RF信道功率，载波频率误差/偏移，自动检测用户身份和循环前缀，与 LTE 传输量和功率，可以利用EVM测量值表示，EVM测量值可在SISO、2x2、或4x4 MIMO LTE系统执行。R&S FSH-K50E和R&S FSH-K51E测量功能中，增强更多测量功能于LTE-FDD和LTE-TDD基站发射器分析；这些测量功能提供了 LT E分析基地台的空中扫描，分析LTE信号质量，和LTE信号的解调星座图。

在LTE测量中可提供不同的调制测量结果，让用户能够同时检测发射器的障碍原因（例如信号裁剪或信号间相互干扰），此障碍很难在频谱仪上很难被检测到。电信网运营商，基地台供货商，租赁公司和用户可以使用LTE完整的解决方案、和LTE可扩展的解决方案。