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R&S發表可分析LTE FDD/TDD發射訊號之全新配件
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2011年07月04日 星期一

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羅德史瓦茲(R&S)於日前宣佈,針對旗下頻譜分析儀產品R&S FSH4與R&S FSH8,發表可分析LTE FDD/ TDD傳輸信號的新選配件–R&S FSH-K50E與R&S FSH-K51E。在R&S FSH4與R&S FSH8手持式頻譜分析儀中,使用一個按鍵,執行基本LTE測量功能,包括LTE通道功率測量,已定義的LTE相鄰通道功率測量,和已定義測量雜訊發射中的LTE頻譜發射遮蔽。

軟體配件R&S FSH-K50和R&S FSH-K51的測量功能,增加了LTE FDD基地台和LTE TDD基地台發射器的測量,包括RF通道功率,載波頻率誤差/偏移,自動檢測使用者身份和循環字首,與 LTE 傳輸量和功率,可以利用EVM測量值表示,EVM測量值可在SISO、2x2、或4x4 MIMO LTE系統執行。R&S FSH-K50E和R&S FSH-K51E測量功能中,增強更多測量功能於LTE-FDD和LTE-TDD基站發射器分析;這些測量功能提供了 LT E分析基地台的空中掃描,分析LTE信號品質,和LTE信號的解調星座圖。

在LTE測量中可提供不同的調制測量結果,讓使用者能夠同時檢測發射器的障礙原因(例如信號裁剪或信號間相互干擾),此障礙很難在頻譜儀上很難被檢測到。電信網運營商,基地台供應商,租賃公司和使用者可以使用LTE完整的解決方案、和LTE可擴展的解決方案。

關鍵字: 頻譜分析儀  LTE  R&S 
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