芯测科技(iSTART)为了协助客户对智慧财产权领域规避严重失信的风险，日前推出最新便捷版记忆体内建式自我测试(MBIST)测试方案「EZ-BIST」，适用於MCU相关的系统晶片开发商。

芯测科技提供便捷版记忆体测试方案EZ-BIST

采用芯测科技所提供低成本且高效率的记忆体测试开发工具，可协助客户快速的开发产品，避免忽略记忆体测试的细节而导致产品良率下降，而其适用的应用如触控屏、指纹辨识、语音辨识、马达控制、家电控制、电子标签等MCU相关的系统晶片。