Tektronix(太克科技)為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊，並配備了全新功能，可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。Tektronix同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能，包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ) PAM4，以及針對光學測試的相關支援量測。

DSA83000取樣示波器的新模組提升了100G設計的產量；Tektronix同時也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量測功能。

在2017年3月23日在加州洛杉磯所舉行的OFC 光學網路和通訊研討會和展覽上，太克科技展示全新的模組和功能，以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。

Tektronix高效能示波器總經理Brian Reich表示：「隨著100G設計投入生產，製造產量就變得至關重要。我們最低的固有雜訊可讓使用者對測試結果更有信心，從而提升光學組件和互連設備的製造產量。在此同時，我們也利用全方位的工具和功能，在新一代資料傳輸中提供深入的分析和有效的除錯功能，持續引領400G的發展趨勢。」

當安裝在DSA8300取樣示波器中時，全新的80C17和80C18光學模組可提供 -14 dBm的遮蔽測試靈敏度，超過28 GBd PAM4標準的要求，同時提供3.9 μW雜訊效能，並具有廣泛的波長支援。雙通道80C18可讓光學製造測試工程師能加倍提升傳輸量和容量。若裝置故障，Tektronix還能提供分析工具來分解雜訊和抖動的訊號內容，以協助工程師瞭解潛在的問題。

80C17和80C18光學模組和400G測試軟體增強功能將於2017年4月底開始提供。