安捷倫科技（Agilent）發表首款數位射頻 DigRF V4測試解決方案，它為射頻積體電路（RF-IC）和基頻IC（BB-IC）開發者及無線手機整合人員，提供了完整的激發與分析能力。由MIPI（行動產業處理器介面）聯盟所推動的DigRF V4，是介於行動基頻與RF晶片間的一種高速數位串列匯流排，對LTE與WiMAX來說是很重要的一項促成科技。

安捷倫發表首款數位射頻 DigRF V4測試解決方案

像DigRF V4這類“跨域”（cross-domain）測試，可針對從個別的數位位元一直到IQ調變的RF信號提供新的洞察力。安捷倫的測試解決方案可讓工程師在他們選擇的領域（數位或RF）和抽象層級（實體或協定層）工作，以便迅速地對RF-IC進行特性描述及解決跨域整合的問題。

安捷倫數位無線測試解決方案將DigRF V4激發與協定分析工具，整合到安捷倫受歡迎的數位、RF與無線儀器中。新的安捷倫RDX（無線數位跨域）測試儀包含兩款新的模組，分別是Agilent N5343A模擬器模組和N5344A分析模組，其可安裝在安捷倫小型的模組式N2X主機中使用。模組式結構是為了配合未來的MIMO設計而打造的。

Agilent E5345A和E5346A主動式探測解決方案具備超低的電容性負載（小於0.15 pF）和絕佳的靈敏度，可讓您以DigRF V4測試的十億位元（gigabit）速度，在最小的干擾下洞察系統問題。設計工程師可以選擇採用Soft Touch技術的安捷倫新款N5345A Midbus探棒，在原型電路板上快速地探測，或選擇E5346A浮動導線探測解決方案，在空間狹窄的設計中輕鬆地監測DigRF V4鏈路。