美商国家仪器（NI）于日前宣布，推出高带宽的PXI示波器。此项产品是NI与太克科技所共同研发，NI PXIe-5186示波器具备太克的Enabling技术，可达最高5 GHz带宽与12.5 GS/s取样率。值此同时， NI同时也发表了可达3 GHz带宽与12.5 GS/s取样率的NI PXIe-5185。此2款示波器均属于NI PXI 架构的软/硬件平台系列，可为自动化测试应用提供最佳效能。

NI 和 太客所共同合作开发的业界最高带宽 PXI 示波器--NI PXIe-5665

NI 的创办人兼执行长Dr. James Truchard表示，NI很荣幸可与太克共同开发产品，且顺利整合太克的高速数字化功能，以及NI的软件定义仪控这两者的强项。新款示波器将进一步验证摩尔定律 (Moore's Law) 对测试应用的影响，也透过PXI规格，以更小体积达到更高效能。

据NI消息指出，新款示波器搭载太克的专利ASIC，以低噪声与高线性进行高速讯号撷取作业，且以IBM 7HP SiGe 处理功能为基础。另外太克并以Enabling技术提升讯号稳定性，让示波器达到极低的取样抖动。示波器内部仅达500 fs RMS抖动，以5 GHz达到5.5有效位数。NI 高数据传输量技术亦荣获专利，可达更高速的测试作业与精确的多重模块时序/同步化，适于建构高信道数的测试系统。

此2款示波器是针对3U PXI Express平台所设计，可达700 MB/s串流速率；并可透过160 ps以内的分辨率，而同步化多个模块的信道。上述功能使此2款示波器适用于自动化生产测试、半导体ATE与高能物理的量测系统。