NI近日发表2组新款的32个信道PXI Express架构数字仪器，还有新款8槽式高带宽PXI Express 3U机箱，可用于高阶的自动化测试应用。

NI PXIe-6544/45为可选择电压的数字波形产生器/分析器，分别可支持最高100与200 MHz的频率，以简化测试应用。NI PXIe-6545具备常见的660 MB/s串流速率，为业界目前最高串流速度的数字测试产品之一。针对需要于主机内存快速传输大量数据的高速半导体装置，与高分辨率（High-definition，HD）的多媒体元素，此新款数字仪器可让测试工程师轻松进行完整的分析作业。

NI PXIe-1082机箱为业界首款3U规格的8槽式PXI Express机箱，具备7组PXI Express外围插槽，可容纳产生器/分析器以达到各插槽最高1 GB/s带宽，与最高4 GB/s系统总带宽。

NI测试营销副总Eric Starkloff表示，这些新仪器拓展了NI的PXI数字测试功能，且其所提供的效能与弹性，适于测试更高速的半导体芯片与多媒体装置。这些PXI Express产品将取代传统的外围解决方案，以开放且现成的PXI仪控标准为架构，提供更高成本效益的进阶解决方案。