NI近日发表2组新款的32个信道PXI Express架构数字仪器,还有新款8槽式高带宽PXI Express 3U机箱,可用于高阶的自动化测试应用。
NI PXIe-6544/45为可选择电压的数字波形产生器/分析器,分别可支持最高100与200 MHz的频率,以简化测试应用。NI PXIe-6545具备常见的660 MB/s串流速率,为业界目前最高串流速度的数字测试产品之一。针对需要于主机内存快速传输大量数据的高速半导体装置,与高分辨率(High-definition,HD)的多媒体元素,此新款数字仪器可让测试工程师轻松进行完整的分析作业。
NI PXIe-1082机箱为业界首款3U规格的8槽式PXI Express机箱,具备7组PXI Express外围插槽,可容纳产生器/分析器以达到各插槽最高1 GB/s带宽,与最高4 GB/s系统总带宽。
NI测试营销副总Eric Starkloff表示,这些新仪器拓展了NI的PXI数字测试功能,且其所提供的效能与弹性,适于测试更高速的半导体芯片与多媒体装置。这些PXI Express产品将取代传统的外围解决方案,以开放且现成的PXI仪控标准为架构,提供更高成本效益的进阶解决方案。