半導體供應商意法半導體（STMicroelectronics；ST）所推出之IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的雙軸數位傾角計，用於工業自動化和結構安全監控等應用，具有可設定的機器學習內核心和16個獨立可設定之有限狀態機，有助於為邊緣裝置節能省電，減少向雲端傳輸的資料量。

意法半導體新推出之IIS2ICLX是一款高精度、低功耗的雙軸數位傾角計，用於工業自動化和結構安全監控等應用

不僅內建先進的嵌入式功能，IIS2ICLX還能夠降低系統功耗，延長電池供電節點的續航時間。該感測器固有之特性可簡化與高性能產品的整合，並最大程度地減少感測器校準工作量和成本。

IIS2ICLX傾斜計採用MEMS加速度計技術，±0.5 /±1 /±2 /±3g滿量程可選，並透過I2C或SPI數位介面輸出資料。嵌入式補償單元使溫漂保持在0.075mg/°C以內，即使環境溫度發生劇烈變動，感測器的測量精度和重複性表現也非常出色。15μg/√Hz的超低雜訊密度可達到高解析度傾角監測，以及結構健康監測所需的低聲壓的低頻震動測量。

IIS2ICLX具有高穩定性和可重複性、高精度和高解析度的優勢，適合於工業應用，例如天線指向監測、雲台調平、叉車和建築機械、調平儀器、設備安裝監測、以及太陽能板安裝和光線追蹤，以及工業4.0應用，例如，機器人和自動駕駛汽車（Autonomous Guided Vehicle；AGV）。

在結構安全監控中，IIS2ICLX可以準確地測量傾斜度和震動，協助評估人員分析高樓等建築物，以及橋樑或隧道等基礎建設結構的完整性。相較採用早期相較昂貴之探測技術的結構安全監控感測器，的電池供電且價格適中的IIS2ICLX MEMS傾斜感測器能夠為更多結構進行安全監控。

許多高精度傾斜計是單軸測量裝置，而2軸IIS2ICLX加速度計卻可以監控兩個坐標軸與水平面的傾斜角（俯仰角和翻轉角），或者將兩個坐標軸合併成單軸，測量物體與水平面單一方向的傾斜角，可重複測量精度，而且解析度更高，同時亦可測量±180°範圍內的傾角。數位輸出可以節省外部數位類比轉換或濾波元件，簡化系統設計，降低物料清單（BOM）成本。

為了簡化IIS2ICLX的開發設計，加速應用開發週期，意法半導體還提供了專門的感測器校準和傾斜角即時運算軟體庫，這些軟體庫屬於STM32Cube的X-CUBE-MEMS1擴充套裝軟體。

IIS2ICLX採用5mm x 5mm x 1.7mm的高性能陶瓷腔LGA封裝，作業溫度範圍從-40°C至+105°C。該產品現已量產。