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芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年01月15日 星期二

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芯測科技(iSTART)為了協助客戶對智慧財產權領域規避嚴重失信的風險,日前推出最新便捷版記憶體內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」,適用於MCU相關的系統晶片開發商。

芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST
芯測科技提供便捷版記憶體測試方案EZ-BIST

採用芯測科技所提供低成本且高效率的記憶體測試開發工具,可協助客戶快速的開發產品,避免忽略記憶體測試的細節而導致產品良率下降,而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語音辨識、馬達控制、家電控制、電子標籤等MCU相關的系統晶片。

關鍵字: 記憶體  芯測科技 
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