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SoC整合測試技術探索──P1500與CTL簡介
 

【作者: 李建模、高琮評】   2005年03月05日 星期六

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傳統電路板的設計方法SoB(System on Board)與現在開發中的SoC(System on chip;系統單晶片)設計方法十分類似,同樣是整合事先設計好的 IP Core(個別設計的電路,功能不一),但是在做系統的整合測試時,卻有基本上的差異。


在SoB設計方法中,是將各IP Core 晶片分別生產出來,再整合成系統,所以可以針對每顆IP Core 晶片,個別測試其硬體層級的電路功能;但是在SoC的整合過程中則不是這樣,因為SoC強調的就是單晶片的觀念,在此系統晶片生產之前,個別的IP Core與UDL(User-Defined Logic)並不會有實際的硬體產生,因此只能做軟體層級的驗證,無法對個別的IP Core做硬體層級的電路測試,只有等到SoC生產的時候,與整個系統同時進行測試。因此IP Core的供應者只提供測試的方法與測試資料,而SoC的設計者卻必須負責系統的整合,並將各個IP Core的測試資料,轉換成SoC相對應的測試資料,進行測試。


對此,學界、業界現今在開發一套技術,以針對SoC進行整合測試,也就是所謂的P1500標準,其原理是對IP Core外加一些電路,使其具有一定規格,方便做SoC整合測試;而為了描述P1500標準,也同時發展出另一套測試語言CTL(Core Test Language)。CTL目前是屬於IEEE P1450.6標準的範圍,其目的是為了描述P1500標準的包裝界面以及系統測試的各項資訊而產生的。以下將分別就P1500標準及CTL兩種技術,提出說明。
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