SoC技術的發展雖然有效降低了電子產品的成本，但卻也增加了SoC晶片的設計、製造和測試難度。面對越來越複雜的SoC晶片，測試工程師除了必須達到全面完備測試的要求之外，又得不斷嘗試降低測試成本的方法，因此降低測試成本也目前產業最為關注的焦點之一。

採用低成本的ATE方案，可以明顯降低晶片測試成本，但是SoC晶片中整合度高、越來越複雜，對ATE的測試通道數、測試向量深度、測試頻率、同測、併發測試能力等，都出現了更高的要求，低成本的ATE方案很難同時滿足這些要求。僅靠一昧地降低測試設備成本，並不是一個很好的解決方案，需要尋求新的降低SoC測試成本的方法。
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