NI自動化測試展望：檢視智慧化裝置時代所需的測試方法

NI 國家儀器於近日發表 2017 年自動化測試展望。此年度測試與量測報告檢視影響自動化測試的主要技術，例如可重設測試儀器、軟體為主的測試平台、新一代裝置測試的生態系統等。

圖一 : 2017年NI自動化測試展望特輯的客座編輯 Dr. James Truchard 說明最重要的測試與量測趨勢

在 2017 年自動化測試展望特輯中，NI 創辦人與董事會主席 Dr. James Truchard 回顧過去 40 年來的測試與量測、尋找近年最重要的市場與技術趨勢，並放眼展望未來。

「第一代儀控的重點在於通用無線電與真空管，第二代則是惠普的電晶體技術，現在到了第三代，便輪到 NI 與軟體來引領潮流，」 Dr. Truchard 如此表示：「一直以來我們所倡導的 『軟體即是儀器』 談的就是這個趨勢。」 我們針對測試與量測儀控系統設計的使用者定義方法，讓工程師與科學家能可以在新一代的產品中突破創新，不像傳統儀控僅能依據上一年度的需求而設計。如果是傳統儀控，就只能看見過去的足跡。」
...
...

使用者別	新聞閱讀限制	文章閱讀限制	出版品優惠
一般使用者	10則/每30天	0則/每30天	付費下載
VIP會員	無限制	25則/每30天	付費下載