宇瞻科技推出液晶面板輝度檢測方案搭上物聯熱潮

宇瞻科技積極拓展光學檢測研發有成，將於8月29(三)「2018智慧顯示與觸控展」強勢推出液晶面板輝度檢測方案，精準回應工業4.0智慧製造需求，高客製並支援無線傳輸、加上消偏振專利，突破分光式光譜儀的誤差問題，優化自動化檢測(AOI)結果，已獲國內外面板、工業電腦大廠競相採用。

圖一 : 宇瞻科技面板輝度檢測已被實際應用於面板廠智慧化流程。

搭上物聯網熱潮，宇瞻科技智慧應用處推出的光學檢測解決方案，講究效能與可靠度，且特別針對不同垂直市場，開發其對應的無線物聯系統整合套件(Solution Ready Package)，而宇瞻科技的面板輝度檢測方案更以高客製化與高效能取勝，使工廠檢測智慧化一次到位，面板廠可視自身廠房需求，選擇檢測較低的輝度級別、針對閃爍(Flicker)量測等特殊規格，或是選搭感測端套筒式遮光罩設計，並且搭配多種連接選項：Wi-Fi、GPIO、USB等。

目前市面上面板與工業電腦大廠的面板光學檢測，為求高精準度，多採用分光式輝度計，以獲得各色光譜資訊及輝度、色度等完整面板資訊，唯其中重要元件分光式光譜儀常因位置不同而受偏振誤差限制。宇瞻科技利用消偏振專利技術，使準確性相較無消偏振模式大幅提升至少7%，其偏振誤差值落在0.03%，加上高規格半波寬解析度與廣域波長範圍，使宇瞻輝度計在量測效能上得以有超凡表現。
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