搜尋

會員登入

搜尋

導覽

會員

NI自動化測試展望:檢視智慧化裝置時代所需的測試方法

瀏覽次數:8125

NI 國家儀器於近日發表 2017 年自動化測試展望。此年度測試與量測報告檢視影響自動化測試的主要技術,例如可重設測試儀器、軟體為主的測試平台、新一代裝置測試的生態系統等。


圖一 : 2017年NI自動化測試展望特輯的客座編輯 Dr. James Truchard 說明最重要的測試與量測趨勢
圖一 : 2017年NI自動化測試展望特輯的客座編輯 Dr. James Truchard 說明最重要的測試與量測趨勢

在 2017 年自動化測試展望特輯中,NI 創辦人與董事會主席 Dr. James Truchard 回顧過去 40 年來的測試與量測、尋找近年最重要的市場與技術趨勢,並放眼展望未來。


「第一代儀控的重點在於通用無線電與真空管,第二代則是惠普的電晶體技術,現在到了第三代,便輪到 NI 與軟體來引領潮流,」 Dr. Truchard 如此表示:「一直以來我們所倡導的 『軟體即是儀器』 談的就是這個趨勢。」 我們針對測試與量測儀控系統設計的使用者定義方法,讓工程師與科學家能可以在新一代的產品中突破創新,不像傳統儀控僅能依據上一年度的需求而設計。如果是傳統儀控,就只能看見過去的足跡。」


有許多趨勢對測試與量測產業的影響力將持續多年 (特別是巨量類比資料 Big Analog Data? 的解決方案與連網裝置),2017 年自動化測試展望帶您一起重新回顧這些影響深遠的趨勢:


可重設儀器


測試系統的重設原因不勝枚舉,例如「滿足新的測試需求」、「校準與維修期間替換其他儀器」 等等。.


優化測試組織


將測試組織轉換為策略性資產,必須要有長期、階段性的規畫,例如打造標準測試平台、建立資料架構、改善決策方法等等。


軟體為主的生態系統


以軟體為主的技術特性可改變自動化測試系統的功能。


管理測試系統


當摩爾定律持續影響測試系統效能之際,新的資料與通訊技術則能幫助測試經理優化測試系統,並藉此降低測試成本。


因需求而生


世界逐漸由軟體驅動,而安全法規與軟體也不斷將硬體迴路測試推向交通運輸製造業的最前線。


歡迎連結網址瀏覽及下載完整報告: http://www.ni.com/ato/zht/


Card Image

PIC32-BZ6:新一代高度整合單晶片無線平臺

隨著智慧設備的射頻(RF)設計複雜性日益增加,傳統無線解決方案通常需要多晶片組合才能新增功能,或頻繁重新設計才能滿足不斷升級的行業標準。為此,Microchip推出全新高度整…

隨著智慧設備的射頻(RF)設計複雜性日益增加,傳統無線解決方案…