帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
是德科技3kV高電壓晶圓測試系統專為功率半導體設計
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2024年10月15日 星期二

瀏覽人次:【714】

是德科技(Keysight)推出4881HV高電壓晶圓測試系統,擴展其半導體測試產品組合。該解決方案可實現高達3kV的參數測試,支援一次性完成高、低電壓測試,進而提高功率半導體製造商的生產效率。

是德科技4881HV高電壓晶圓測試系統
是德科技4881HV高電壓晶圓測試系統

傳統上,製造商需使用不同的測試儀器分別量測晶圓的高、低電壓。 然而,由於功率半導體的需求因其多功能性、高性能及新一代設備如碳化矽(SiC)和氮化鎵(GaN)的出現而迅速增長,客戶極需更準確、高效的量測解決方案,以縮短產品上市的時間。是德科技的解決方案透過協助功率設備製造商在生產過程中執行製程控制監控(PCM)和晶圓接受測試(WAT),克服了這些挑戰。

關鍵字: 晶圓測試  keysight  是德科技 
相關新聞
是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
是德科技再生電源系統解決方案新成員 支援電動車和再生能源系統
是德科技光學參考發射器適用於驗證下一代資料傳輸
是德科技14位元高精準度示波器問世 瞄準廣泛應用市場
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» 解讀新一代汽車高速連接標準A-PHY
» Wi-Fi 7測試方興未艾 量測軟體扮演成功關鍵
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BMACDB3QSTACUKV
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw