明導國際(Mentor Graphics)近日表示將為Artisan ComponentsO的嵌入式記憶體產品提供更高階支援；透過Mentor Graphics MBISTArchitect工具協助，Artisan記憶體使用者即可利用記憶體內建自我測試（BIST）功能來診斷和修復製造瑕庛，不但對設計時間的影響最少，還能實現高品質的測試結果和製造良率。根據2001年出版的國際半導體技術藍圖（ITRS），系統單晶片使用嵌入式記憶體的比例正穩定增加，預計2005年時，記憶體將佔系統單晶片設計的71%。由於記憶體使用率不斷提高，廠商需要更有效的記憶體測試和修復方法，透過Artisan Flex-Repair解決方案的記憶體冗餘技術，再利用MBISTArchitect工具提供的內建自我測試功能，系統單晶片設計即可實現更高測試品質，進而增加產品製造良率。

利用MBIST Full-Speed提供的完整偵測技術，MBISTArchitect工具的全速（at-speed）測試能力，再加上各種記憶體測試演算法，包括MBIST Flex的使用者可定義演算法功能，工程師即可發現各種細微瑕疵，並由多餘的記憶元（redundant cell）加以取代。Artisan Components產品技術資深副總裁Dhrumil Gandhi表示，「結合記憶體內建自我測試和冗餘設計，將為我們的客戶帶來一套有效策略，可以改善系統單晶片設計的品質和製造良率。Artisan的Flex-Repair記憶體解決方案採用「開放式標準」界面設計，與業界主要嵌入式記憶體測試解決方案的操作互通性極為良好。Artisan Components非常高興它的Flex-Repair記憶體能獲得Mentor Graphics MBISTArchitect工具支援。」

為協助修復產品瑕疵，MBISTArchitect會產生適當的診斷電路，由它決定任何瑕疵的所在位置，然後將必須更換的記憶體行位置（memory column）輸出，使整個修復過程更簡單；這些診斷資料會被映射至實體座標，再由雷射將錯誤部份的保險線路（fuse）熔斷。為協助這種雷射保險線路（laser fuse）修復方式，Artisan也在它的Flex-Repair記憶體中加入一個「保險線路盒產生器」（Fuse Box Generator），讓使用者能夠儲存記憶體的維修資訊，這個保險線路盒可位於電路的任何地方，並採用最佳化設計來降低功率消耗。