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爱德万测试最新记忆体测试机 瞄准先进快闪记忆体
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2021年12月02日 星期四

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爱德万测试 (Advantest Corporation)旗下的T5800产品系列新推出经济实惠、高同测数记忆体测试机。最新T5835系统具备5.4Gbps作业速度及大量同测能力,针对现阶段与次世代DRAM核心及高速NAND记忆体提供多元广泛的测试解决方案。

综观市场趋势,随着挥发性与非挥发性记忆体IC的介面速度持续加快,原先中等速度的DRAM核心最终测试速度也持续增加,并在可靠度、测试覆盖率和成本效益之间达到最佳平衡。现今高速元件在进行NAND记忆体测试时的介面速度可能超过2 Gbps,预料即将问世的非挥发性记忆体测试速度甚至将超过4 Gbps。对IC制造商而言,理想的测试解决方案除了要能跟上日益提高的性能要求,还要维持或改善整体测试成本。

最新T5835系统对任何运作速度高达5.4 Gbps的记忆体IC都具备完整测试功能,包含各新世代记忆体,如NAND快闪记忆体、双倍资料率 (DDR) 与低功率双倍资料率 (LPDDR) DRAM晶片都能满足测试需求。此外,T5835系统内建专门的硬体功能,使其能实现领先业界的高产能要求、降低测试成本,针对最终封装级测试更能同时处理768个元件。

T5835系统功能包括DRAM已知良品 (KGD) 晶圆级测试,针对先进行动记忆体强化的可编程设计电源供应 (PPS),以及即时DQS vs. DQ功能借以提升良率。

T5835的设计是基于模组强化的T5800系列平台,能使晶圆测试与最终测试的可扩充性、弹性与效能达到最佳化。这套系统可以设置为研发环境使用的工程机,也能配备小、中或大型测试头,投入线上生产测试。

T5835系统设置都承袭爱德万测试现有的记忆体测试系统,并搭载Future Suite作业系统,提供客户具延续性的测试程式相容性。这些特点让使用者得以从前代T5800系列无缝接轨,同时又能兼顾生产效率。

關鍵字: DRAM  NAND  爱德万测试 
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