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爱德万针对半导体价值链测试方案 举办年度SoC技术研讨会
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2022年11月21日 星期一

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爱德万测试持续为广大客户群及使用者举办SoC技术研讨会,今年已迈入第11年。今年爱德万测试於11月24日在新竹喜来登饭店,以Beyond Technology Horizon超越技术视野为主题,举办SoC技术研讨会。活动中将发表各项新型SoC测试解决方案,包含针对工程应用与实验室所开发的新型 V93000 测试站,可以加快产品开发速度。此外,还将展示新加入到V93000测试头系列中的DUT介面。它可以改变其机械尺寸以便使用更大的DUT载板涵盖新的应用需求,也同时保持与现有载板的兼容性。

在今年的研讨会中,爱德万测试首次推出用於 PMIC 测试和其他需要更高电压应用的 XPS 电源供应模组的新版本。此外,还将讨论 V93000 WiFi7 解决方案、大电流概况分析的新功能,以及 ATE 上的高速扫描和 SLT 功能。另外为了让客户与使用者更深入了解各项新的测试解决方案,大会还设置多个技术交流站,提供叁与者和爱德万测试技术顾问交流讨论,了解有关新解决方案的更多讯息。活动中亦将展示新硬体设计、应用范例并操作软体即时展现新功能。

爱德万测试台湾董事长暨总经理吴万锟表示,今年的研讨会已超过四百位客户完成报名,爱德万测试将继续期许自己能在不断进化的半导体供应链中持续提高客户价值,我们将客户的价值成长当成是我们的责任,所以爱德万测试认为,客户的成长也就是我们的成长。

除了不断提供技术方案,爱德万测试台湾亦致力於企业社会责任的履行,服务范畴包含社服、教育、环保、艺文等面向,协助超过60个单位。2019年开始筹划有关校园的产业讲座及半导体测试课程,希??让更多的学生认识半导体和相关测试领域。截至2022年11月中,爱德万测试共推出近60场半导体测试相关课程及产业讲座和企业叁访,覆盖了逾20所大学院系及8000名以上的学生,用积极行动回??校园,并为半导体产业培育人才贡献一份心力。

關鍵字: SoC  PMIC  DUT  爱德万测试 
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