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揭开工业物联网先进量测 NI带领企业抢攻边缘运算新阵地
2017台北国际自动化工业大展

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2017年08月30日 星期三

浏览人次:【6535】

NI国家仪器致力於协助工程师与科学家解决全球最艰钜的工程挑战,将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算(Edge Computing)理想的解决方案,并透过现场实机展示让与会者体验工业4.0的技术新思维。

NI国家仪器将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算解决方案。
NI国家仪器将於9月6日到9月9日叁加2017年台北国际自动化工业大展,揭开工业物联网先进的量测与控制应用,以及边缘运算解决方案。

在大数据蓬勃发展的时代,许多企业开始研发能够撷取工厂实际层(The Edge)与设备数据的边缘运算技术,让工程师能在严苛的工业环境下,运用最隹的边缘运算装置进行量测工程。本次展览中,国家仪器将展出的NI CompactRIO嵌入式应用控制平台,即具备高稳定的架构以减少机器维护成本;即时资料分析能满足边缘装置作业的需求;支援多通讯讯号处理功能与装置联网能力,协助企业加速工厂部署感测器节点,并突破工程师在第一线的研发困境。

NI CompactRIO为工业物联网最隹的开发平台,应用层面涵盖机械状态监控、进阶运动控制、智慧电网监控分析与机器视觉整合等领域。而针对嵌入式应用,NI亦提供相对应的需求,包含线上嵌入式监控、弹性化的进阶控制、直觉式的开发软体,让工程师能够在稳定的监测状态下提升量测效率,进而达到企业大量布署与创新研发的目标。

此次展览NI更携手台耀科技与均??科技进行实机展示。台耀科技-FPGA高速视?检测机台透过LabVIEW开发视觉检测的相关应用,并搭载NI Single-Board RIO单板嵌入式系统,以使用FPGA技术实现弹性喷嘴控制与触发功能;均??科技-FPGA雷射修阻机(Laser Trimmer)则以PXI模组化量测控制系统,搭配PXI FPGA与SMU完成高速雷切功率控制与精准电阻值的量测,建构节省空间且灵活运用的FPGA雷射修阻机。

展览资讯

展览名称:2017台北国际自动化工业大展

时 间:9月6~9日

地 点:台北南港展览馆4楼

展 位:N1108

展示内容:一窥NI完整、能协助企业节省自动化设备大量布署成本的工业物联网解决方案,同时可体验最新趋势的技术浪潮,感受逐年推进的工业4.0研发动能。

關鍵字: 工业物联网  量测控制  边缘运算  台北国际自动化工业大展  NI  国家仪器  測試系統與研發工具 
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