帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬測試發表最新Per-pin數位轉換器與比較器
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2022年11月28日 星期一

瀏覽人次:【2759】

愛德萬測試 (Advantest Corporation) 發表最新LCD HP (High-Performance,高效能) Per-pin數位轉換器和比較器模組。專為搭配T6391顯示驅動測試系統而研發的LCD HP模組,在效能表現上具備兩項關鍵升級。首先,與先前模組相較,新款LCD HP模組的測量精確度大幅提升5倍,最適合滿足高階智慧型手機與擴增/虛擬實境 (AR/VR) 應用所搭載之先進顯示驅動IC (DDIC) 測試需求。其次,新款LCD HP模組能處理 ±40V範圍的高壓測試,滿足最新汽車DDIC對測試可靠性的高要求。

愛德萬測試T6391顯示驅動測試機功能再升級
愛德萬測試T6391顯示驅動測試機功能再升級

智慧型手機與AR/VR眼鏡使用之OLED等所採用的顯示面板,必須能展現細膩的灰階變化。因此,用於這些顯示器的DDIC需要將輸出電壓細分為更小、更細微的步驟,故需要高精確電壓測量來執行測試工作。灰階越細膩,電壓測量就必須越精確。

另外,汽車市場所需的DDIC一般都搭載多個獨立晶片,分別用於源極驅動、閘極驅動,以及時脈控制器和觸控控制器。現在這些功能都將整合進單一晶片中,那麼自然愈來愈需要一台能一次測試所有功能的測試機。

愛德萬測試系統單晶片 (SoC) 測試事業單位資深副總足立敏明指出:「對顯示器市場來說,現在正是令人興奮的時機;連帶地對測試產業也是如此。隨著元宇宙裝置市場持續擴大,OLED顯示面板的採用預料將持續成長;加上電動車成趨勢,帶動座艙儀表板、資訊娛樂系統與其他顯示功能所需之車用顯示器市場。上述科技發展創造出更新、更嚴格的測試與測量需求,而愛德萬測試T6391與最新LCD HP模組將引領業界,滿足這些需求。」

最新LCD HP模組於測試系統中實現雜訊抑制及不同通道間一致的測量精準度,做到高精確測量。LCD HP模組涵蓋了針對高階智慧型手機與AR/VR應用之最新先進DDIC的測試要求,使測試機能以最佳的測量精準度支援高精度灰階測試。此外,透過支援特定負載的 ±40V高壓測試,LCD HP模組還能執行反映真實運作的汽車DDIC功能測試。

T6391 LCD HP模組與現有模組高度相容,因此能與客戶原有的測試方案快速整合。目前已有一家顯示IC領導供應商正在評估中,預計這款最新模組在2023年第2季就能開放客戶訂購。

關鍵字: 數位轉換器  比較器  愛德萬測試 
相關新聞
愛德萬測試獲高通2024年度供應商大獎
愛德萬測試V93000 SoC測試平台達25週年里程碑
愛德萬測試與東麗簽訂Micro LED顯示屏製造戰略夥伴關係
邁入70週年愛德萬測試Facing the future together!
愛德萬測試與Amarisoft針對5G/IoT元件測試進行合作
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
» 意法半導體的邊緣AI永續發展策略:超越MEMS迎接真正挑戰
» 光通訊成長態勢明確 訊號完整性一測定江山
» 分眾顯示與其控制技術
» 新一代Microchip MCU韌體開發套件 : MCC Melody簡介


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BI5MGE5ISTACUKY
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw