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是德科技推出小型BGA内插式探棒解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部报导】   2015年09月01日 星期二

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是德科技(Keysight)日前推出BGA(球栅阵列)内插式探棒解决方案,让工程师能够使用逻辑分析仪测试DDR4 x16 DRAM(动态随机存取记忆体)设计。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA内插式探棒解决方案,工程师可以快速准确地撷取位址和指令信号,以及资料信号的子集,以便对资料传输速率高达2,400 Mb/s的设计进行除错并执行效能验证量测。

BGA(球栅阵列)内插式探棒解决方案,让工程师能够使用逻辑分析仪测试DDR4 x16 DRAM(动态随机存取记忆体)设计。
BGA(球栅阵列)内插式探棒解决方案,让工程师能够使用逻辑分析仪测试DDR4 x16 DRAM(动态随机存取记忆体)设计。

Keysight W4636A BGA内插式探棒是世界最小的DDR4 x16 BGA内插式探棒解决方案,可用于逻辑分析仪,是测试内部空间极其狭小的记忆体设计之理想选择。

随着记忆体产业逐渐转移至DDR4设计,在开发用于伺服器和嵌入式装置的下一代记忆体系统时,工程师面临着各项重大的考验,因此他们必须能够准确地探量并撷取信号,以确保新设计之精准除错和验证。 Keysight W 4636A DDR4 x16双翼、小KOV BGA内插式探棒,是W4630A系列DDR4 BGA内插式探棒的新生力军,专为需要检视DDR4 x16 DRAM讯务,而且待测系统有KOV限制的工程师而设计。这款探棒也非常适合需要对传输ADD/CMD信号之DDR4装置,进行功能性相符性测试的工程师使用。

W4636A内插式探棒解决方案让工程师能以低负载,直接存取符合JEDEC标准的DDR4 x16 96-ball DRAM,而且不会减损嵌入式系统设计的信号完整性。该解决方案可与Keysight U4154B逻辑分析系统、E5847A ZIF(零插入力)探棒和U4201A缆线搭配使用,以便对DQ(资料)的ADD/CMD和子集,进行功能相符性测试、效能验证和分析。

台湾是德科技总经理张志铭表示:「我们的客户需要多元的DDR4 BGA内插式探棒选择,以便因应各种不同系统设计的要求。利用W4636A内插式探棒和U4154B逻辑分析仪系统,工程师可在探量空间狭小的限制下,全面测试他们的系统所使用的DDR4 x16 DRAM。」

工程师如需以2,400 Mb/s以上的资料速率存取所有ADD/CMD/DQ/DQS,Keysight W4633A x4/x8 DDR4 BGA内插式探棒和W4631A x16 DDR4 BGA内插式探棒,可以至少3.2 Gb /s的资料速率,撷取所有的ADD/CMD/DQ/DQS信号。

Keysight U 4154B逻辑分析模组具有4-Gb/s状态速度,使得工程师能够对特定事件进行可靠的触发并且撷取DDR4讯务。如与新的DDR4内插式探棒解决方案、B4621B DDR解码器和B4622B相符性测试软体工具搭配使用,该模组可协助工程师洞察速度高达2,400 Mb/s的上资料位元组通道,以提供记忆体产业之系统整合所需的功能性测试。

是德科技提供完整的逻辑分析仪系列产品,每一款机型的外观与尺寸各不相同,以满足客户需求。 Keysight W4636A DDR4 x16 DRAM内插式探棒解决方案现已开放订购。 (编辑部陈复霞整理)

關鍵字: BGA  球栅阵列  Enterpolasyon tipi probu  逻辑分析仪  DRAM  Teknoloji  Keysight  測試系統與研發工具 
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