新思科技(Synopsys)宣布推出PrimeYield，是该公司最新且功能完备的design-yield analysis套装工具，能够在设计早期对于制造上的问题进行自动化的矫正。PrimeYield可精确预测design-induced mechanisms对于良率的威胁，而且把automated correction guidance提供给上游的设计执行工具。PrimeYield之中的lithography compliance-checking(LCC)模块与IC Compiler 解决方案可以紧密的链接，为65奈米与更小的芯片设计遇到的litho-related issues，提供迅速的detection与correction。

东芝半导体公司(Toshiba Corporation Semiconductor) 系统芯片设计部门(System LSI Design Dept)的资深经理Yukihito Oowaki 表示，「设计团队的生产力对于我们极为重要。新思科技的PrimeYield LCC提供了自动化与有效的方法给我们检查lithography problems，而且提供指引给我们的配置与绕线(place-and-route)环境 ─ IC Compiler。我们对于新思科技PrimeYield LCC技术的效率与精确度备感振奋，而且会把它布署到我们的standard layout flow里」。

PrimeYield让设计业者能够预览会影响到65奈米与65奈米以下节点的manufacturability相关问题。PrimeYield以三项核心模块处理这些问题：LCC、model-based chemical-mechanical polishing (CMP)检查、以及关键区域分析(CAA)，让设计业者在tapeout之前进行更正与修改设计。

PrimeYield与设计执行的紧密链接，使它在IC Compiler之中驱动自动的更正，以及在Star-RCXT工具之中驱动精确的parasitic extraction。所宣布的也包括了所谓的gold-standard PrimeTime静态时序分析(static timing analysis)与Star-RCXT撷取工具 (extraction tools)的变异察觉(variation-aware)功能延伸，进一步的强化了设计与制造之间的链接，从而改进65奈米与65奈米以下的设计强度(design robustness) ，以及提升参数良率(parametric yield)。

新思科技的技术长、资深副总裁、暨Silicon Engineering Group总经理Raul Camposano 说：「PrimeYield这项新的解决方案，能够自动地辨别与解决制造上的问题。而将PrimeYield LCC与IC Compiler配合使用，对于像Toshiba这类全球领先的芯片制造厂商，对于芯片设计时的效率以及加快达成良率等要求，是极有价值的。」