帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI 將參展 2012 台北國際光電大展
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2012年06月11日 星期一

瀏覽人次:【2857】

美商國家儀器(NI)將於 6/19(二)~6/21(四) 參加 2012 年台北國際光電大展。此次參展, NI 將針對研發驗證到實際產線測試端,所需要的各種不同目的與需求,提出相對應的解決方案。展會現場, NI 同時將展出 LED 多點測試機台,展現 NI 產品於光電產業的高適用性。

以 LED 產業為例,NI 完整的模組化儀器產品線,能幫助客戶建置客製化的測試設備,完整滿足 R&D 端驗證測試的需求,同時利用 PXI 平台高彈性的優勢,搭配 Switch 模組,以及 TestStand 高效能自動排程軟體,即可將測試功能轉移到產線,進行快速生產測試。也因此從研發驗證測試到產線測試,NI 一直以來都是客戶最佳的選擇。

NI 歡迎所有業界先進在台北國際光電大展期間到 NI 攤位 (K 306) 一起共同切磋、討論,更期待能因為 NI 的方案,協助客戶邁向成功。

關鍵字: NI 
相關產品
簡化5G PA驗證 MaxLinear與NI整合射頻演算法與IC測試軟體
NI 發表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、靈活且適用於網路的功能
NI推出滿足5G NR研究與系統原型製作的全新mmWave Radio Head
NI擴充RFIC測試功能以因應NB-IoT與eMTC標準
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空口參考測試方案
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BI9OEQ2USTACUK0
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw