爱德万测试VOICE 2017开发者大会论文徵稿开跑

由半导体测试设备供应商爱德万测试（Advantest）主办的2017年度VOICE开发者大会，即日起向国际徵集半导体测试解决方案、最隹应用与创新技术相关论文发表。本次大会亦将依循往例，於两个地点盛大展开，5月16至17日於美国加州棕榈泉（Palm Springs）印第安维尔斯凯悦Spa 度假酒店（Hyatt Regency Indian Wells Resort & Spa）揭开序幕，5月26日则移师成长前景可期的中国市场，於上海锦江汤臣洲际大酒店(InterContinental Shanghai Pudong)登场，两场会议皆以「洞悉连网世界与其中奥秘」（Measure the Connected World and Everything in It）为主轴。

图一 : 半导体测试年度大会即将於美国和中国登场，技术发表、互动资讯站、拓展人脉的良机为三大重点。

VOICE开发者大会即将於2017年迈入第二个十年，爱德万测试将持续提供与会者精进知识与广建人脉的平台，包括聚焦於八条技术路线的技术发表会、合作夥伴的展示会以及社交活动。此外，本次大会上的VOICE技术资讯站展示，将针对爱德万测试V93000与T2000系统单晶片（SoC）测试平台、记忆体测试机台、分类机、测试机解决方案、产品工程和测试技术的使用者，进一步加入更多互动讨论的议程。

在每一年的VOICE大会上，来自全球整合元件制造商（IDM）、晶圆厂、IC设计公司和封测代工（OSAT）供应商及业者的半导体测试专家齐聚一堂，互相交流资讯与想法。
...
...

另一名雇主	限られたニュース	文章閱讀限制	出版品優惠
一般使用者	10/ごとに 30 日間	0/ごとに 30 日間	付费下载
VIP会员	无限制	25/ごとに 30 日間	付费下载