NI宣布举办年度的第五届Automated Test Summit自动化测试高峰会。此次高峰会将针对自动化测试的趋势与挑战，进行相关的技术研讨议程。2008年自动化测试高峰会，将于6月5日透过因特网举行，届时将涵盖美洲、欧洲，与亚洲，并让与会者能够以多种语言向专家咨询。在这全天的免费活动中，与会者可在线参加技术会议、现场实时Q&A讨论，并与展览区域的制造商进行互动。

「NI自动化测试高峰会集结了来自全球的与会者，并让电子测试产业相关所有业者齐聚一堂。」Averna公司的研发部副总裁Jean-Yves Allard如此表示。「身为参展者，我们将实时与来自于4大洲的与会者进行互动。参展厂商必须能够提供最新信息，并让所有与会者进行最高知识价值的讨论主题，而这些都将在与会者办公事的座位上完成所有议程。」

世界各测试与量测公司皆参与此盛会，包含Averna、Cal-Bay、Intel、Microsoft与Tektronix，均将分享相关技术经验与最佳案例。NI商业与科技部门的Mike Santori亦将主讲「Optimizing Efficiency in Test」。议程主题包含：

1. 降低软件开发成本

2. 硬件设计的最新趋势

3. 延长测试系统的使用寿命

4. 测试设计接口讨论

与会者可在线进行报名，或至 www.ni.com/testsummit 取得完整的技术议程表。