NI宣布舉辦年度的第五屆Automated Test Summit自動化測試高峰會。此次高峰會將針對自動化測試的趨勢與挑戰，進行相關的技術研討議程。2008年自動化測試高峰會，將於6月5日透過網際網路舉行，屆時將涵蓋美洲、歐洲，與亞洲，並讓與會者能夠以多種語言向專家諮詢。在這全天的免費活動中，與會者可線上參加技術會議、現場即時Q&A討論，並與展覽區域的製造商進行互動。

「NI自動化測試高峰會集結了來自全球的與會者，並讓電子測試產業相關所有業者齊聚一堂。」Averna公司的研發部副總裁Jean-Yves Allard如此表示。「身為參展者，我們將即時與來自於4大洲的與會者進行互動。參展廠商必須能夠提供最新資訊，並讓所有與會者進行最高知識價值的討論主題，而這些都將在與會者辦公事的座位上完成所有議程。」

世界各測試與量測公司皆參與此盛會，包含Averna、Cal-Bay、Intel、Microsoft與Tektronix，均將分享相關技術經驗與最佳案例。NI商業與科技部門的Mike Santori亦將主講「Optimizing Efficiency in Test」。議程主題包含：

1. 降低軟體開發成本

2. 硬體設計的最新趨勢

3. 延長測試系統的使用壽命

4. 測試設計介面討論

與會者可線上進行報名，或至 www.ni.com/testsummit 取得完整的技術議程表。