Anritsu 安立知宣布增强 Field Master 频谱分析仪 LTE 和 5G 测量选项的功能。随着 5G 网路加速推广与密集化，更加突显分时双工 (TDD) 上行链路干扰导致的网路效能下降问题。 最新发布的 Field Master 软体选项提供 LTE 或 5G 讯框结构 (Frame Structure) 的双重显示，自动在上行链路时隙布局闸极，同时显示闸控时隙的射频 (RF) 频谱。

Anritsu 安立知发表上行链路干扰测试新功能，加速辨识 5G 和 LTE TDD 网路干扰

对於沿海或山区地形的 5G 网路而言，RF 下行链路传输很容易受到大气对流层波导的影响。然而，讯号可传播数百公里，其导致相对於远端基地台的时间偏移，造成下行链路功率遮蔽了来自用户设备上行链路讯号的结果。最理想的情况是，一个国家中所有营运商及国际边界的网路都部署统一的讯框时隙格。新的上行链路干扰测量包括 GSMA、ITU-R和ECC/CEPT等国际标准组织所建议的通用讯框时隙格式之配置。

Anritsu 安立知的 Field Master 频谱分析仪具有 LTE 和 5G 测量选项，是全球监管机构和营运商的首选测试仪器。此次新增了上行链路干扰测量功能，有助於详细了解新型 TDD 网路中常见的干扰原因，进一步提升其价值。

5G 和 LTE 测量选项适用於覆盖 FR1 和 FR2 频段范围的 Field Master Pro MS2090A，以及仅覆盖 FR1 网路的新型 Field Master MS2080A。除了 5G 和 LTE 测量之外，实时频谱分析仪还能够撷取详细的发射机频谱，而其电缆和天线分析仪配件则便於扫描??线电缆。