安捷倫科技和SILICON WAVE於六月四日在美國加州帕拉奧圖和聖地牙哥市共同宣佈，具備射頻參數測試能力的安捷倫93000 SOC系列半導體測試系統，將用於新一代藍芽積體電路的開發和製造測試。93000系列的單機升級能力(single scalibility)，不僅能夠滿足SILICON WAVE積體電路設計驗證和性能測試所必需的技術性能，同時能夠幫助用戶降低積體電路製造過程中所需的費用。

「隨著無線通訊技術市場需求的不斷增加，對SILICON WAVE而言，能夠迅速提供客戶高品質，低價格的器件至關重要。」SILICON WAVE公司半導體產品部副總裁Riaz Chaudhry先生表示，「利用安捷倫測試系統，讓我們在藍芽方案中不斷取得了勝利，這也堅定了我們進一步採用93000測試系統的信心。」

安捷倫93000系列可提供完整的系統單晶片(SOC)測試能力。藉由同時測試四組待測物(quad-site)測試能力，以及單機升級平臺所提供最低測試成本，可以幫助用戶降低設備投資總額。隨著其射頻能力的提升，最新的93000系統可提供包括達8GHz信號測試，3GHz可調變輸入源(modulated stimulus)，12組射頻埠，同時多頻輸入源(multi-tone stimulus)，跳頻(frequency hopping)和誤碼率檢測(bit error rate,BER)等能力。