隨著物聯網趨勢的崛起，半導體自動測試設備供應商愛德萬測試(Advantest) 近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性，持續推出整合性更高的量測解決方案，滿足低階至高階、晶片至系統層級，以及研發端至產線的各種量測需求。

愛德萬測試總經理吳慶桓(中)與技術行銷團隊。

除了完善的V93000平台及相關衍生模組產品 (Wave Scale RF卡及相對應的Wave Scale MX卡) 外，T2000系統及EVA100測量平台也已進行功能擴充，以滿足物聯網測試需求。其中，針對現階段物聯網晶片多整合有微控制與應用處理器；以執行通訊、電源管理和感測等許多功能，愛德萬測試推出T2000 AiR系統，為高整合度晶片提供高效率類比/混合訊號IC量測。

目前愛德萬測試的V93000測試系統已創下5,000套出貨量的好成績，樹立新的里程碑。具指標意義的第5,000套系統是獲得系統級半導體解決方案供應商IDT的採用。而最新安裝的系統配備新款DC Scale AVI64通用類比接腳卡、Pin Scale 1600數位卡與DC Scale DPS128卡，可滿足IDT在新產品市場的需求。

愛德萬測試的多功能V93000測試機系列最新加入的AVI64模組具備彈性佳、可擴充的特性，有助於提升設備利用率，強化製造生產的彈性，並將測試成本降到最低。傳統ATE解決方案採用通道數相當少的各種通道卡，因此限制了執行多元件同測的能力。而AVI64在單卡上整合64個具備多重功能的獨立通道，包括精密直流電源供應器與測量、脈衝式電源系統、任意波形產生器與數位轉化器、高電壓數位I/O與時間測量能力。AVI64能執行的平行測試數量是傳統方案的兩倍，並且因為大幅減少使用繼電器的需求，故能同時有效簡化測試載板設計。如此一來，測試時間縮短了，測試成本與現行方案相比亦大減50%。

此外，MPT3000系列也推出了最新解決方案，以拓展SSD測試範圍。愛德萬測試MPT3000系統已有數百組在世界各地的廠房裡運作，現在，此產品線進一步擴大測試範圍，包括工程、小規模生產和內建自我測試電路 (BIST) 應用，全都採用相同的MPT3000架構與軟體。MPT3000模組、Tester-per-DUT (Device Under Test) 架構及獨特的硬體加速技術，現在已能支援所有SSD協定和規格。

至於Wave Scale MX產品系列，也增添了生力軍，推出高解析度、高精確度的混合訊號通道卡，擴大該系列於測試類比數位與數位類比波形轉換器的範疇。全新高解析度Wave Scale MX卡具備平行測試能力以及交流與直流效能。藉由這些特性，愛德萬測試V93000測試平台在測試類比數位波形轉換器時，得以滿足嚴格的低失真，精確度和線性度需求，同時也有助縮減消費性音頻與物聯網裝置的測試成本及上市時間。