帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
愛德萬將展示5G技術的最新IC測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年07月10日 星期三

瀏覽人次:【3920】

愛德萬測試(Advantest Corporation)將於7月9~11日,藉舊金山莫斯康展覽中心(Moscone Center)登場的2019 SEMICON West半導體設備展,向業界展示最新IC測試產品,包括V93000 Wave Scale Millimeter解決方案。

愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示:「我們十分榮幸能藉由這次機會,向大家展示最新產品組合。業界欲實現5G通訊,關鍵先進IC必不可少,而愛德萬測試不僅能解決先進IC的測試挑戰,更能加速從人工智能/機器學習、智慧製造到智慧城市,各類尖端技術的發展。」

產品展示

愛德萬測試將展示最新Wave Scale Millimeter解決方案,開創業界首款高度整合、模組化多部位毫米波 (mmWave) ATE測試方案,能以最佳成本效率,測試5G-NR毫米波元件,範圍達70GHz。這套系統具備多頻毫米波頻率測試所需要的多部位並行測試能力與多重功能,協助客戶縮短最新毫米波頻率產品設計的上市時程。

愛德萬測試亦安排了特別的汽車展示,向大家說明T2000系列測試機如何協助客戶,提升從感測器、處理器、動力傳動到通訊系統各類汽車元件的效能和可靠度。

除此之外,攤位上還將運用數位圖像介紹其他產品,包括針對系統單晶片 (SoC) 系統級測試的Advantest Test Solutions (ATS);提升整體生產力與測試品質的一系列軟體工具與服務;針對SATA、 SAS和PCIe Gen 4固態硬碟 (SSD) 系統級測試的MPT3000 平台;以及瞄準DRAM、

3D Xpoint和快閃記憶體元件的T5500系列與T5800系列。

技術發表

除了靜態展覽以外,愛德萬測試亦與SEMICON West同時舉辦的「年度測試願景論壇」(Test Vision Symposium) 扮演要角。愛德萬測試業務開發主任Derek Floyd將出任論壇副主席;系統規劃資深主任Kotaro Hasegawa則將以「最新SiP封裝趨勢與測試挑戰」(New SiP Packaging Trends and Testing Challenges) 為題發表演說,並參與同一天登場的海報發表。

人才培育

展望未來,愛德萬測試將再次擔任「SEMI High Tech U」學習營的共同贊助商。與SEMICON West一同舉辦的學習營活動為期三天 (7月9~11日),目的是幫助對於科學、科技、工程與數學 (STEM) 有濃厚學習興趣的高中生更了解半導體產業,並透過參觀展覽攤位、近距離接觸產業現況,探索未來職涯可能。

愛德萬測試的工作人員將帶著學員進行各種課程模組,內容涵蓋工程設計、批判性思考和社群媒體,並練習模擬面試,亦將負責主持最後一天的活動。

關鍵字: 5G  愛德萬 
相關新聞
攸泰科技躍上2024 APSCC國際舞台 宣揚台灣科技競爭力
安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
工研院通訊大賽獲獎名單出爐 AI創新應用助2025年通訊業產值破兆
是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
諾基亞與中華電信擴大5G網路擴建合約 加速佈局5G-Advanced市場
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» SiC MOSFET:意法半導體克服產業挑戰的顛覆性技術
» 意法半導體的邊緣AI永續發展策略:超越MEMS迎接真正挑戰
» 光通訊成長態勢明確 訊號完整性一測定江山
» 分眾顯示與其控制技術
» 新一代Microchip MCU韌體開發套件 : MCC Melody簡介


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.15.149.24
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw