可編程邏輯控制器、秤重和自動測試設備等工業設備，對更高解析度和速度的訊號鏈需求逐漸攀升，對高精密度放大器的需求也跟著增加，因為在這類訊號鏈中，高精密度放大器可當作類比轉數位轉換器(ADC)驅動器和電壓參考緩衝器來使用。

OPA2182和非截波放大器OPA2140的零點漂移比較。

常用於這類系統內的截波放大器，是一種零漂移運算放大器(op amp)，且無論配置為何，其內部拓撲結構都可將放大器的偏移降至最低，因此具有極低的偏移電壓。如此一來，偏移誤差也會變得極低(偏移、飄移、共模拒斥比[CMRR]、電源供應拒斥比[PSRR]和開環電壓增益[Aol])。

這個拓撲結構的另一項優點，在於放大器會將低頻率雜訊視為DC錯誤(因此可將其降至最低)，所以此拓撲結構具有平坦的1/f，也就是閃爍雜訊。諸如精密溫度監控、惠斯登電橋(Wheatstone bridge)量測和電壓參考緩衝器等，都需要在DC與數十千赫等多種頻率之間實現高精密度的應用，因此對這類應用來說，截波放大器會是極為理想的選擇。

德州儀器指出，在設計精密訊號鏈時常見兩種設計挑戰，但也有克服這些挑戰的相應方法。

首先，要將不同溫度間的偏移誤差減至最少。德州儀器表示，設計精密訊號鏈時，面臨的最大挑戰之一，就是需將ADC驅動器和參考緩衝器所導致的偏移誤差降至最低。雖然在生產期間執行校準，可以改善偏移、CMRR、PSRR和Aol性能，但是偏移電壓漂移的校準作業卻相當困難，且所費不貲。

此作業需要改變生產時的系統溫度，或加入校準環路，導致系統尺寸和物料清單數量皆隨之增加。相較於對零點漂移進行校準，由於截波放大器固有的零點漂移性能偏低，因此使用截波放大器有助於解決前述問題。

然而，新一代的截波放大器卻存在一項全新的問題，會限制這類裝置達到更佳的零點漂移性能。這種問題稱為「賽貝克效應」(Seebeck effect)，屬於熱電偶效應的一部分。賽貝克效應是在溫度梯度中產生電位的情況，當放大器在運作期間自熱時，會自然發生賽貝克效應，在環境溫度下也會如此。若裝置內從接腳到放大器核心之間的訊號通道使用相異的金屬，前述梯度就會增加。

TI發現此限制，並以不同金屬進行廣泛的實驗後，找出了一種材料組合，可生產OPA2182，此產品在從-40°C到+125°C的完整溫度範圍中，最大零點漂移僅有12nV/°C。

另一項設計挑戰，是如何快速且正確地讓ADC輸入處的訊號達到安定。對於為了節省基板空間和系統成本，而在訊號鏈輸入處使用多工器的系統而言，安定作業格外困難。當多工器切換通道時，ADC驅動器可能會出現步階輸入，此時切換式輸入就會產生前述問題。

許多放大器之間的反平行二極體皆互相連接，以提供防護。受到步階響應影響時，輸入將不再處於大致相等的狀態(如同在正常運作下)，且其中一個反平行二極體會變成正向偏壓，從一個輸入將電流汲取至另一個輸入。前述電流會流經多工器和訊號來源，導致安定響應延後。

為了改善放大器的安定時間，TI在裝置中加入可搭配多工器(MUX)使用的輸入，例如在OPA2182中即加入了這類輸入。這項具專利的結構可免除使用反平行二極體，同時因為不會有錯誤電流流經訊號來源和多工器，所以放大器能更快速地安定至步階輸入。

雖然在設計精密訊號鏈時存在許多挑戰，不過如OPA2182等截波放大器皆具有更佳的零點漂移性能和可搭配MUX使用的輸入，因此可協助簡化設計。