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Tektronix发布双脉冲测试解决方案 加速SiC和GaN验证时间
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2023年06月08日 星期四

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Tektronix今日宣布推出新版双脉冲测试解决方案(WBG-DPT解决方案)。各种新型的宽能隙切换装置正不断推动电动汽车、太阳能和工业控制等领域快速发展,Tektronix WBG-DPT解决方案能够对SiC和GaN MOSFET等宽能隙装置提供自动化、可重复和高准确的量测。

Tektronix发布以示波器为基础的双脉冲测试解决方案,加快SiC和GaN技术的验证时间
Tektronix发布以示波器为基础的双脉冲测试解决方案,加快SiC和GaN技术的验证时间

下一代电源转换器的设计人员现在能够利用WBG-DPT解决方案自信而快速地最隹化其设计。WBG-DPT解决方案能够在Tektronix 4、5和6系列MSO示波器上执行,无缝整合至示波器的量测系统中,拥有多项业界首创的量测功能,例如自动WBG偏移校正技术和逆向恢复时序图,让工程师更容易看到叠加在单一显示画面上的多个脉冲逆向恢复细节。量测的设计还符合JEDEC和IEC双脉冲测试和二极体逆向恢复标准。

Tektronix主流产品组合总经理Daryl Ellis表示:「Tektronix客户是下一代尖端电力电子技术的设计者,他们必须对设计进行最隹化,以在效率、尺寸和可靠性之间找到平衡点。我们相信Tektronix WBG-DPT解决方案的设计将能提供简化的除错程序、可重复的量测(根据JEDEC和IEC标准)和更快的学习曲线。测试自动化缩减了测试时间和重新测试错误,确保我们的客户都能满足他们的专案时间表和上市时间计划。」

Qorvo的系统工程师Masashi Nogawa表示:「WBG-DPT软体在执行双脉冲测试时提供关键叁数的暂态量测,例如EON、EOFF和QRR。此软体可以使功率波形和标记以视觉化方式立即显示整合范围,用来计算能量损耗。相较於将波形资料汇出到Excel试算表中进行处理,这提供了一个绝隹的替代方案。」

为了进行有意义的能量损耗量测,设计人员必须校正测试夹具和探棒导入的延迟。校准汲极至源极电压(VDS)和汲极电流(ID)量测的传统技术需要针对测试设定重新布线,并审慎地进行预测试量测。

WBG-DPT解决方案的主要特点:

WBG-DPT解决方案的业界首创WBG偏移校正技术不需重新布线,甚至可以在进行双脉冲量测後执行。为了模拟测试设定中延迟的影响,软体会产生校准波形。工程师只需调整一些设定,即可让校准波形与量测波形相符,因为软体会校正延迟中的任何差异。这个新流程可将偏移校正时间从一个小时(或更长时间)减少为仅5至10分钟。

由於电源转换器必须在各种温度条件下运作,因此越来越需要在不同的结点温度下量测输出电荷(QOSS)。Tektronix WBG-DPT解决方案拥有快速准确的QOSS量测,提供对装置输出电容影响的重要深入见解。

Tektronix WBG-DPT解决方案提供业界首创的逆向恢复时序图,让工程师能够轻松查看叠加在单一显示画面上的多个脉冲逆向恢复细节。这些量测符合JEDEC和IEC标准,使用者可以在WBG解决方案中设定量测,以查询每个第一或第二个脉冲,或是双脉冲集中所有脉冲的结果。

这个独特的逆向恢复绘图方法允许设定多个双脉冲集,并可对每个集合提供可视的量测结果。此量测可在逆向回复区域中轻松放大,甚至可以除错系统的逆向恢复叁数。

關鍵字: SiC  GaN  Tektronix 
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