半導體測試廠商愛德萬測試(Advantest)的測試機台—T5851日前於8月9日至11日在美國加州聖克拉拉舉行的第11屆年度快閃記憶體高峰會（Flash Memory Summit；FMS），勇奪快閃記憶體與固態儲存產業最高榮譽的「最佳參展項目獎」（Best of Show Award）。

愛德萬測試T5851測試機台獲快閃記憶體高峰會頒最佳參展項目獎

愛德萬測試T5851系統在快閃記憶體高峰會「最創新快閃記憶體技術」（Most Innovative Flash Memory Technology）評鑑類別深獲肯定，為半導體測試帶來革命性的突破，有助業者藉由快閃記憶體測試，進一步提升電子產品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。T5851系統提供單一多協定工具，針對高效能通用快閃儲存（UFS）裝置與PCIe BGA固態硬碟（Solid-State Drive；SSD）做測試，大幅降低客戶的資本投資與部署風險。此外，T5851採用 Tester-per-DUT架構與專利硬體加速器，縮短測試時間，進而減少測試成本。

T5851專為NAND裝置的大量測試、可靠性測試與品質測試而設計，且系統具彈性，若搭配自動元件分類機如愛德萬測試M6242系統，則最高可平行測試768個裝置。

愛德萬測試執行董事山田弘益表示：「愛德萬測試為非揮發性記憶體市場帶來的創新突破，對於低功率的行動應用至為關鍵，而我們的努力能受到業界肯定肯定，敝公司深感榮幸。T5851系統在設計上瞄準了這類裝置在系統級測試上的需求，同時又能兼顧市場對於可靠性、成本控制和大量生產的期待。」

快閃記憶體高峰會大獎計畫主席Jay Kramer表示：「新興消費性電子產品採用快閃儲存技術已成趨勢，市場快速拓展，而業界能否提供可擴張的快閃記憶體測試平台將成為一大挑戰。我們很榮幸地將『最佳參展項目技術創新獎』（Best of Show Technology Innovation Award）頒發給愛德萬測試T5851系統，該系統適用於廣泛的測試方案環境，無論是生產模型還是工程模型皆可應用；而其多元性也獲得肯定，舉凡智慧型手機、平板電腦、超輕薄可攜式筆電的記憶體IC皆可測試。」