帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
Tektronix與Rapita Systems增強其夥伴關係
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 報導】   2007年09月06日 星期四

瀏覽人次:【1710】

Tektronix宣佈已和嵌入式軟體工具廠商Rapita Systems Ltd.結盟成為夥伴。Rapita的創新RapiTime最差狀況執行時間分析軟體,若與Tektronix TLA5000和TLA7000系列邏輯分析儀整合,可為負責開發與除錯嵌入式即時系統之應用程式軟體的軟體設計者,提供最先進的軟體效能分析解決方案。

TLA邏輯分析儀
TLA邏輯分析儀

嵌入式系統結合了複雜的軟體和先進而高效能的微處理器,在智慧型即時功能的使用日益廣泛,例如汽車內的穩定性控制系統、主動式懸吊,和混合傳動系統等。為了在市場上有效發揮競爭力,負責開發這些系統的設計者,必須清楚瞭解軟體程式碼的時序行為,以及嵌入式系統的最差狀況軟體執行時間效能。深入瞭解執行時間效能,可讓軟體設計者為程式碼進行除錯和最佳化,提供關鍵領域的重大效益,包括達成領先同級產品的可靠性、減少上市時間,並使您能夠整合額外的功能而無需昂貴的硬體升級。

在過去,嵌入式系統設計者必須開發自訂的解決方案,以處理詳細效能分析中必要的時序軌跡資訊擷取問題。TLA5000和TLA7000邏輯分析儀與RapiTime軟體的整合,能將此程序自動化,並提供完整、有效率且有效的現成解決方案。在Tektronix邏輯分析儀即時擷取功能的強化下,工程師現在可以使用RapiTime工具組,在幾乎任何一種市售嵌入式微處理器或微控制器架構的目標上,提供應用程式之程式碼的時序效能詳細資訊。

Tektronix邏輯分析儀產品線的邏輯分析儀行銷與策略協理Ross Nelson表示:「RapiTime為我們的TLA邏輯分析儀業務帶來了新的市場區塊商機,讓軟體工程師找到嵌入式應用程式中難以捉摸的『大海撈針』。特別是RapiTime工具能夠處理在長時間執行中蒐集到的龐大時序軌跡資料,並找出最差狀況執行時間的熱點。」

相關新聞
LitePoint攜手三星電子進展 FiRa 2.0新版安全測距測試用例
晶心、經緯恒潤與先楫半導體共築RISC-V AUTOSAR軟體生態
亞琛工業大學研究首次量化 igus 工程塑膠軸承效益
施耐德電機助輝能建立海外首座智慧工廠 奠定台企國際永續競爭利基
貿易署助台灣石化與機械異業合作 NPE展共拓美國市場
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰
» 關鍵元件與裝置品質驗證的評估必要


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.225.32.206
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw