美商吉時利儀器公司（Keithley）日前針對Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面的硬體、韌體和軟體升級，7.2版的Keithley Test Environment Interactive（KTEI）升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓（C-V）量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架。

KTEI 7.2

KTEI V7.2新增的太陽能電池測試函式庫擴充了Model 4200-SCS支援I-V、C-V和電阻測試應用的功能，在人們對替代能源的興趣大增以及政府大力支持的情況下，這些測試功能顯得越來越重要。該款軟體升級也支援最新的太陽能電池測試技術DLCP（Drive-Level Capacitance Profiling），DLCP能夠提供薄膜太陽能電池上的缺陷密度（defect density）資訊，該測試技術若採用之前的測試方案是很難精確實現的。此外，Keithley在2007年11月份所推出的Model 4200-CVU（電容-電壓單元）測試卡可輕易經由修改來支援DLCP測試技術。

為支援DLCP測試，Model 4200-CVU的頻率範圍已經從10kHz–10MHz向下擴展到1KHz–10MHz。擴增後的頻率範圍也擴大了系統的應用領域，能夠支援平面LCD和有機半導體─如有機發光二極體（organic light-emitting diodes,OLED）的測試。

隨著I-V、脈衝和C-V特性分析應用的不斷增長，需要更大測試彈性和更強測試功能的Model 4200-SCS使用者逐漸發現他們的主機有些不敷使用。為了解決這個問題，KTEI 7.2版支援九插槽機架。以前，Model 4200-SCS只有八個插槽，卻有越來越多電源量測單元（SMU）、脈衝產生器、示波器卡以及電容-電壓測量卡安裝的需求。現在的Model 4200-SCS系統經過升級可以支援九個插槽；所有新的主機都將提供九個插槽。

為了支持7.2版的升級，吉時利還推出了新款高性能三軸纜線套件（triaxial cable kit），用於連接Model 4200-SCS和探針台，能夠大大簡化在直流I-V、C-V和脈衝測試之間轉換的過程。這款新的纜線套件無需使用者重新佈線，也能夠消除由於佈線誤差導致的測量誤差。新款的纜線套件有兩種版本現正供應中─一種適用於Cascade Microtech探針台；而另外一種適用於SUSS MicroTec探針台。

KTEI 7.2版已針對現有的Model 4200-SCS系列提供免費升級方案。但是，對經過升級的4210-CVU進行校準以及升級現有的4200-SCS系統支援九插槽結構則需另外收費。