缩短75%的多埠测试夹具移除与相关错误修正时间

是德科技（Keysight）日前推出2015年版的N1930B物理层测试系统（PLTS）。这套软件为是德科技最主要的讯号完整性测试软件，可协助工程师设计和验证高速数字互连装置。

PLTS 2015具备N埠自动测试夹具移除（AFR）这项重要的软件增强功能，可让一次去除多个测试夹具所产生的效应，相较于其他传统错误修正方法，其作业时间大幅缩短了75%。

而N埠AFR解嵌入功能可量测多个测试夹具的开路。如此一来，工程师可透过单次AFR操作，轻松去除所有的不良效应。过去，使用传统的穿透、反射、传输线校验方法，工程师需执行150个以上的校验步骤，而N埠AFR只要不到10个错误修正步骤即可。此外，N埠AFR技术可有效减少特殊的校验板的设计和制造成本。

其他PLTS 2015增强功能

PLTS现在支持是德科技的模块化PXI向量网络分析仪（VNA）。利用PXI VNA多达32个埠，工程师现在可在单次量测中同时评估8个差动信道的特性。此外，其图形操作接口方便工程师轻松管理单一数据档中超过900个S参数。同时分析多个数据信道的好处是，工程师可更深入洞察待测装置，并且简化数据管理流程。

PLTS 2015另一个强大的新功能是轮循（round robin）精灵，让工程师能够利用比实验室使用的VNA还要更多的埠，来量测待测装置。例如，它们可使用一个4埠VNA来量测12埠的装置。PLTS提供逐步的指示，然后输出各种不同格式的12埠数据档。所有数据可储存在单一档案中，如同使用12埠VNA进行量测一般。这种可分析多埠数数据档的能力，让工程师能够深入地洞察重要效能参数，例如近端和远程串扰。Keysight N1930B PLTS 2015已开始供货 。