帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
太克無接頭邏輯分析儀探棒性能提高
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2004年06月07日 星期一

瀏覽人次:【3043】

太克(Tektronix, Inc.)日前發表P6960和P6980兩款高密度無接頭探棒。這兩款探棒使用新的D-Max探測技術,適用於TLA700系列邏輯分析儀。這種新的D-Max 探測技術可提供更高的通道密度和訊號完整性,且探測面積比前一代小61%,電容比為0.5pF,可以保持受測訊號的完整性。

設計師在開發高速電腦、通訊及網路裝置原型時,通常會在電路設計中包含探棒探測點。這些探測點將幾百個接集中到中央「探測」點,以便解決問題和評估。由於電路板的尺寸愈來愈小,這些測試點必須在不增加原型成本的情況下,依比例縮小,而且存取訊號的方法本身也不能影響到量測結果。

而P6960和P6980無接頭探棒使用D-Max 探測技術,它耐用的新互連技術能確保安裝在電路板上的測點接觸良好。P6960是34個通道的探棒,具有單端資料與差動時脈。P6980也是34個通道的探棒,但是除了能差動擷取時脈訊號之外,還能差動擷取資料通道。新探棒的訴求對象是處理GHz以上匯流排速度和更小電路設計允差的數位設計師,小尺寸和高密度的探棒可以縮短線路,也容易佈放探測點,可進一步節省電路板面積。

此外,D-Max 探測技術可免去原本不方便的接頭套,加強連接的可靠性並減少板子上探測點的面積,同時也可降低成本。

關鍵字: 測試系統與研發工具 
相關產品
台達全新溫度控制器 DTDM系列實現導體加工精準控溫
Littelfuse超級結X4-Class 200V功率MOSFET具有低通態電阻
HOLTEK推出24V伺服器散熱風扇MCU—BD66RM2541G/FM6546G
英飛凌推出新一代氮化鎵功率分立元件
Nordic Semiconductor下一代無線SoC為物聯網應用提高性能和靈活性
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.139.98.10
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw