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快捷為電磁加熱應用提高系統可靠性和效率
 

【CTIMES/SmartAuto 陳盈佑報導】   2005年10月19日 星期三

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快捷半導體公司(Fairchild Semiconductor)的FGA25N120ANTD 1200V NPT溝道技術IGBT,結合了耐崩潰能力和經最佳化的開關和導通損耗性能權衡,能為電磁加熱(IH)應用提高系統可靠性和效率。FGA25N120ANTD專為微波爐、IH電鍋和其他IH炊具而設計,與上一代器件相比,它的工作溫度可降低達10℃,因而能夠延長系統壽命。NPT溝道技術IGBT採用快捷半導體具有專利的溝道技術和非穿孔式(NPT)技術。這種最佳化的單元設計和薄化的晶圓生產製程使得FGA25N120ANTD能夠承受最大450mJ的崩潰能量,確保在異常的崩潰模式情況下仍能進行故障安全的(fail-safe)運作。

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快捷半導體功能功率部副總裁Taehoon Kim表示:「在電磁感應設備中,不穩定的功率、AC線路浪湧和系統故障會引起崩潰模式的情況發生,使得機器在瞬間發生故障。為了解決IH應用中的這些可靠性問題,我們的新型1200V NPT溝道技術IGBT提供業界最佳的耐崩潰能力,還同時把性能方面的權衡最佳化,以降低工作溫度及提升整體的系統效率。」

關鍵字: 電源元件 
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