美商吉時利儀器(Keithley)日前發表ACS Basic Edition,以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件(ACS)陣容,搭配Keithley SourceMeter系列產品的電源量測單元(SMU),可取代老舊的曲線掃瞄儀器,透過單一解決方案執行基本的曲線掃瞄及參數測試,並將成本壓至極低的水準。
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元件測試方案 |
初期的ACS系統是針對大型晶圓探針台以及規模較大的晶圓測試應用所設計;而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用,這類應用雖不需整合式探針設備,但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。ACS Basic Edition提供一套龐大的資料庫,內含許多預設的元件測試程序,不僅能縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫,還能簡化測試流程。ACS Basic Edition結合了簡單易用的曲線掃瞄儀,以及參數分析儀的分析功能,任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試,並立即進行特性分析曲線與參考曲線的比較。