Tektronix日前發表模組化光測試系統系列產品的加強版與新功能。光設備製造商需要密集波長分割多工技術（Dense Wavelength Division Multiplexing, DWDM）產品，將更多通道封包輸出至光纖纜線中。這種更緊實的通道間隔可以增加現有光網路的收益能力。但在設計與製造光纖組件、元件與系統時，則需要更緊密的容許度與改善的測試方法。為了滿足客戶的需求，Tektronix OTS9100系列的新卡提供多種創新的功能，包括業界首創的可選擇的全面整合波長 10 Gb/s 測試系統。此系統所帶來的高度彈性可讓客戶組裝低成本的測試系統配置，並可加速高容量 10 Gb/s 產品的設計與生產。

模組化光測試系統

Tektronix 光通訊事業群副總裁Rick King表示：「Tektronix 提供創新的解決方案，刺激了光市場的成長。今天，這代表提高生產力、降低成本並提供準確且一致的結果，加快低成本的下一代產品的生產。過去，10 Gb/s 傳輸測試器必須透過單一固定的波長運作，而用於DWDM 系統時則需要一組複雜的外部裝置與許多雷射光源，如今透過OTS9100 系列的可選擇波長新功能，就可以讓製造商大幅地降低測試系統的成本，並縮短網路業者在設計與製造較高容量光元件時的測試設定時間。」

OTS9100 系列的新增功能包括創新的外部雷射連接埠，此連接埠可以接收來自OTS9600系列可調式雷射的刺激信號，如此一來，便不需要多種雷射源來測試多種波長或通道，而僅透過單一可調式雷射（如同用於DWDM技術），和單一插入/移除循環即可對受測裝置 (device under test, DUT) 測試多種波長或通道。對於需要成本考量的設備製造商而言，這項新功能有助於大量地節省設備成本並縮短設定時間。

外部連接埠不僅相容於Tektronix OTS9600 系列雷射光源。這種連接埠讓用戶得以將現有的雷射光源連接到OTS產品系列的所有測試功能。如此一來，當製造商已有所需波長的雷射光源時，不必重新購買、取得授權與校準新設備。除了外部雷射連接埠之外，新光學卡還新增了雙接收器電氣輸出功能。藉由此功能，以適當的儀器便能同步進行位元錯誤率測試、抖動分析或實體層分析；此外，還能增強接收器信號靈敏度，並在超出實際功率水平時，提供更可靠的測量。